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微米级别缺陷检测分析利器 | 超声显微镜

微米级别缺陷检测分析利器 | 超声显微镜

超声显微镜（SAM）是一种利用高频超声波探测样品内部结构的无损检测设备‌。其原理基于压电换能器发射超声波，经声学透镜聚焦后顺利获得耦合介质（如水）传递至样品，顺利获得接收反射/透射信号生成图像，可分层显示微米级缺陷（如分层、裂纹、空洞等）‌。

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